Conclusion

Nous avons abordé dans cette section $3$ modèles décrivant les différents types de réflexion (Sections 2.2.1, 2.2.2 et 2.2.3) et $2$ modèles de synthèse (Sections 2.2.4 et 2.2.5). Le modèle de Lambert (Section 2.2.1) permet de décrire les réflexions à l'intérieur d'un matériau. L'utilisation de ce modèle n'est pertinente que si une partie significative de l'onde incidente pénètre dans le matériau avant de ressortir de celui-ci. Ce modèle est donc plus adapté aux matériaux diélectriques in-homogènes. Les modèles de Beckmann et Torrance (Sections 2.2.2 et 2.2.3) décrivent quand à eux la réflexion à la surface du matériau. Ces modèles sont donc adaptés au cas où la plus grande partie de l'onde est réfléchie par la surface (cas des matériaux conducteurs) ou dans le cas où la partie de l'onde qui pénètre dans le matériau n'est pas réfléchie vers la surface (cas des matériaux homogènes). La principale différence entre les modèles de Beckmann et Torrance tient à ce que le modèle de Beckmann reste valide pour des matériaux lisse et rugueux alors que le modèle de Torrance ne peut s'appliquer pour des matériaux parfaitement lisses. La Figure 2.11 illustre les différents domaines d'applications de ces modèles. Notons toutefois que les matériaux ne sont généralement ni parfaitement conducteurs ou isolants ni parfaitement homogènes. La décomposition illustrée par cette figure reste donc schématique.

Figure 2.11: Utilisation des différents modèles de réflexion en fonction du type de matériau

Les modèle de Nayar (Section 2.2.4) et Safer (Section 2.2.5) décrivent respectivement le phénomène de réflexion d'un point de vue quantitatif et qualitatif. Ces modèles font une synthèse des modèles précédemment décris. Le modèle de Nayar en particulier décrit le phénomène de réflexion comme une somme de réflexions issues des modèles de Beckmann, Torrance et Lambert. Les coefficients affectés à chaque modèle de base dans le modèle de Nayar dépendent du type de matériau. Les modèles de Shafer ou Healey sont des modèles qualitatif et ne nécessitent donc pas de tels ajustements. Il faut toutefois faire attention au domaines de validités des modèles de base sur lesquels s'appuient ces modèles. Par exemple, l'utilisation de la composante Lambertienne pour des diélectrique n'est plus valide pour des sources avec un angle d'incidence rasant (Section 2.2.1).